Normal view MARC view ISBD view

Electrical Overstress (EOS) /

Voldman, Steven H.

Electrical Overstress (EOS) / Steven H. Voldman. - West Sussex, United Kingdom : John Wiley & Sons, c 2014. - xxiii, 344 p. : ill. ;

Includes bibliographical references and index.

ISBN: 9781118511886 9781118703328

Subjects--Topical Terms:
Semiconductors--Failures
Semiconductors--Protection

Dewey Class. No.: 621.3815

Print
Cite
Add to your cart (remove)
Save record
BIBTEX Dublin Core MARCXML MARC (non-Unicode/MARC-8) MARC (Unicode/UTF-8) MARC (Unicode/UTF-8, Standard) MODS (XML) RIS
More searches

Search for this title in:
Other Libraries (WorldCat) Other Databases (Google Scholar) Online Stores (Bookfinder.com) Open Library (openlibrary.org)

ঔ	ও	ঐ	এ	ঋ	উ	উ	ঈ	ই	আ	অ
ঞ	ঝ	জ	ছ	চ	ঙ	ঘ	গ	খ	ক	X
ন	ঢ	ড	ঠ	ট	ণ	ধ	দ	থ	ত
ষ	শ	ল	র	য	ম	ভ	ব	ফ	প
যুক্ত করুন	ঁ	ৎ	ঃ	ং	ঢ়	ড়		হ	স
ৌ	ো	ৈ	ে	ৃ	ূ	ু	ী	ি	া
০	৯	৮	৭	৬	৫	৪	৩	২	১
য-ফলা	_	রেফ	"